Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है • Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है • Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है
C. सक्रिय प्रोग्रामों के लिए पर्याप्त कार्य स्मृति न मिलने के कारण/Because active programs do not get enough working memory
Explanation
Simple Explanation
कम रैम के कारण सक्रिय डेटा बार-बार धीमे भंडारण से लेना पड़ सकता है। परीक्षा में प्रसंस्करण और कार्य स्मृति दोनों देखें। / Low RAM may force active data to be fetched repeatedly from slower storage. Consider both processing and working memory in exams.
A. वे सीधे केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई के भीतर तत्काल कार्यों के लिए उपलब्ध होते हैं/They are directly available inside the processor for immediate operations
Explanation
Simple Explanation
रजिस्टर प्रसंस्करण के सबसे निकट छोटे और तेज भंडारण स्थान होते हैं। परीक्षा में स्मृति क्रम समझें। / Registers are small fast storage locations closest to processing. Understand the memory hierarchy in exams.
B. उस स्लॉट में लगा अतिरिक्त कार्ड काम नहीं कर सकता/The add-on card installed in that slot may not work
Explanation
Simple Explanation
विस्तार स्लॉट ग्राफिक्स या नेटवर्क कार्ड जैसे घटक जोड़ता है। परीक्षा में स्लॉट और जुड़े घटक का संबंध देखें। / An expansion slot connects components such as graphics or network cards. Link the slot with the attached component in exams.
A. एक समय में अधिक डेटा स्थानांतरित किया जा सकता है/More data can be transferred at one time
Explanation
Simple Explanation
चौड़ी डेटा बस एक चक्र में अधिक बिट ले जा सकती है। परीक्षा में बस चौड़ाई को डेटा क्षमता से जोड़ें। / A wider data bus can carry more bits in one cycle. Link bus width with data capacity in exams.
C. पहुँच योग्य स्मृति स्थानों की संख्या/The number of addressable memory locations
Explanation
Simple Explanation
अधिक पता रेखाएँ अधिक स्मृति स्थान पहचान सकती हैं। परीक्षा में पता बस को स्मृति क्षमता से जोड़ें। / More address lines can identify more memory locations. Link the address bus with memory capacity in exams.
A. क्योंकि नियंत्रण बस पढ़ने, लिखने और समय के संकेत देती है/Because the control bus provides read, write and timing signals
Explanation
Simple Explanation
नियंत्रण संकेत बताते हैं कि डेटा स्थानांतरण कब और किस दिशा में होना है। परीक्षा में तीनों बसों का संयुक्त कार्य समझें। / Control signals indicate when and in which direction data transfer should occur. Understand the combined role of all three buses in exams.
A. कंप्यूटर ठीक से प्रारंभ नहीं हो सकता/The computer may fail to start properly
Explanation
Simple Explanation
प्रारंभ संबंधी स्थायी निर्देश बूट प्रक्रिया के लिए आवश्यक होते हैं। परीक्षा में रीड ओनली मेमोरी की भूमिका पहचानें। / Permanent startup instructions are required for the boot process. Identify the role of Read Only Memory in exams.
B. यह बार-बार उपयोग होने वाले डेटा को केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई के पास रखती है/It keeps frequently used data close to the processor
Explanation
Simple Explanation
कैश धीमी मुख्य स्मृति तक बार-बार पहुँच की आवश्यकता घटाती है। परीक्षा में आकार से अधिक गति और स्थान देखें। / Cache reduces repeated access to slower main memory. Consider speed and location rather than size alone in exams.
B. केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई अधिक गर्म होकर गति घटा सकती है या प्रणाली बंद हो सकती है/The processor may overheat causing slowdown or shutdown
Explanation
Simple Explanation
अधिक ताप से घटक सुरक्षा के लिए गति कम या बंद हो सकते हैं। परीक्षा में शीतलन और प्रदर्शन जोड़ें। / Excess heat may cause components to slow down or shut down for protection. Link cooling with performance in exams.
A. प्रणाली अस्थिर हो सकती है या चालू न हो/The system may become unstable or fail to start
Explanation
Simple Explanation
शक्तिशाली घटकों को पर्याप्त और स्थिर विद्युत आपूर्ति चाहिए। परीक्षा में घटक और ऊर्जा आवश्यकता जोड़ें। / Powerful components require adequate and stable electrical power. Link components with power requirements in exams.
B. स्क्रीन पर चित्र न आए या विकृत दिखाई दे/No image may appear or the display may be distorted
Explanation
Simple Explanation
ग्राफिक्स कार्ड दृश्य संकेत तैयार करता है इसलिए खराबी प्रदर्शन को प्रभावित करती है। परीक्षा में घटक और आउटपुट जोड़ें। / A graphics card produces visual signals so its failure affects display output. Link components with outputs in exams.
A. माइक्रोफोन कनेक्शन और इनपुट सेटिंग/Microphone connection and input setting
Explanation
Simple Explanation
एक कार्यरत ऑडियो प्रणाली में समस्या विशेष इनपुट उपकरण या सेटिंग में हो सकती है। परीक्षा में लक्षण आधारित जाँच चुनें। / In a functioning audio system the issue may be with the specific input device or setting. Choose symptom-based checks in exams.
B. वायरलेस नेटवर्क अनुकूलक/Wireless network adapter
Explanation
Simple Explanation
ताररहित संपर्क के लिए वायरलेस अनुकूलक आवश्यक होता है। परीक्षा में नेटवर्क प्रकार और घटक का मेल करें। / A wireless adapter is required for wireless connectivity. Match the network type with its component in exams.
A. कंप्यूटर नेटवर्क कार्ड को सही रूप से उपयोग नहीं कर पाएगा/The computer may not use the network card correctly
Explanation
Simple Explanation
ड्राइवर ऑपरेटिंग सिस्टम और नेटवर्क कार्ड के बीच संचार कराता है। परीक्षा में हार्डवेयर के साथ सॉफ्टवेयर समर्थन देखें। / The driver enables communication between the operating system and network card. Consider software support along with hardware in exams.
A. कंप्यूटर रैम पहचान न पाए या प्रारंभ न हो/The computer may not detect the RAM or may fail to start
Explanation
Simple Explanation
ढीला रैम संपर्क स्मृति पहचान और बूट प्रक्रिया रोक सकता है। परीक्षा में स्थापना और संपर्क का महत्व समझें। / A loose RAM connection can prevent memory detection and booting. Understand the importance of correct installation in exams.
B. मदरबोर्ड की संगतता और समर्थित स्मृति प्रकार/Motherboard compatibility and supported memory type
Explanation
Simple Explanation
मदरबोर्ड केवल विशेष प्रकार और सीमा की रैम का समर्थन करता है। परीक्षा में क्षमता के साथ संगतता देखें। / A motherboard supports specific RAM types and limits. Consider compatibility along with capacity in exams.
A. यह झटकों से सामान्य हार्ड डिस्क की तुलना में कम प्रभावित हो सकती है/It may be less affected by shocks than a traditional hard disk
Explanation
Simple Explanation
चलने वाले भाग न होने से ठोस अवस्था ड्राइव अधिक झटका सहन कर सकती है। परीक्षा में गति के साथ मजबूती भी देखें। / With no moving parts an SSD may tolerate shocks better. Consider durability along with speed in exams.
A. महत्त्वपूर्ण डेटा का तुरंत बैकअप लेकर उपकरण की जाँच कराना/Immediately back up important data and have the device checked
Explanation
Simple Explanation
असामान्य आवाज यांत्रिक खराबी का संकेत हो सकती है। परीक्षा में डेटा सुरक्षा को पहला कदम चुनें। / Unusual noise may indicate mechanical failure. Choose data protection as the first step in exams.
B. प्रकाश या लेजर के परावर्तन से/Through reflection of light or laser
Explanation
Simple Explanation
प्रकाशीय ड्राइव लेजर प्रकाश से डिस्क की सतह पढ़ती है। परीक्षा में प्रकाशीय और चुंबकीय भंडारण अलग करें। / An optical drive reads the disc surface using laser light. Distinguish optical and magnetic storage in exams.
B. समस्या उस विशेष डिस्क में हो सकती है/The problem may be with that specific disc
Explanation
Simple Explanation
अन्य डिस्क का पढ़ना ड्राइव के सामान्य कार्य का संकेत देता है। परीक्षा में तुलना से दोष स्थान पहचानें। / Reading other discs indicates that the drive generally works. Use comparison to locate faults in exams.
A. डेटा संपर्क या ड्राइवर समस्या/A data-contact or driver problem
Explanation
Simple Explanation
यूएसबी में बिजली और डेटा संपर्क अलग कार्य करते हैं। परीक्षा में आंशिक कार्य से कारण पहचानें। / USB power and data contacts perform different functions. Use partial operation to identify the cause in exams.
A. प्रदर्शन सेटिंग या ग्राफिक्स ड्राइवर/Display settings or graphics driver
Explanation
Simple Explanation
रिजॉल्यूशन दृश्य आउटपुट सेटिंग और ग्राफिक्स समर्थन से जुड़ा है। परीक्षा में केबल और सेटिंग समस्या अलग करें। / Resolution is related to display settings and graphics support. Distinguish cable issues from setting issues in exams.
A. मॉनिटर को वीडियो संकेत प्राप्त नहीं हो रहा/The monitor is not receiving a video signal
Explanation
Simple Explanation
मॉनिटर की बिजली और वीडियो संकेत अलग होते हैं। परीक्षा में चालू स्क्रीन को सही संकेत का प्रमाण न मानें। / Monitor power and video signal are separate. Do not treat a powered screen as proof of a valid signal in exams.
B. मॉनिटर या उसके कनेक्शन में समस्या हो सकती है/The monitor or its connection may have a problem
Explanation
Simple Explanation
प्रोजेक्टर पर दृश्य आउटपुट मिलना बताता है कि प्रणाली संकेत बना रही है। परीक्षा में तुलना आधारित निदान करें। / Visual output on the projector shows that the system is producing a signal. Use comparison-based diagnosis in exams.
B. इनपुट संवेदन भाग या उसका ड्राइवर/The input sensing function or its driver
Explanation
Simple Explanation
टचस्क्रीन में प्रदर्शन और स्पर्श इनपुट अलग कार्य हैं। परीक्षा में दोहरे कार्यों को अलग जाँचें। / Display and touch input are separate functions in a touchscreen. Examine dual functions separately in exams.
A. उत्पाद डेटाबेस में गलत मिलान/An incorrect mapping in the product database
Explanation
Simple Explanation
कोड पढ़ना सही होने पर गलत परिणाम डेटा मिलान से जुड़ा हो सकता है। परीक्षा में इनपुट और डेटाबेस अलग जाँचें। / If the code is read correctly the wrong result may relate to database mapping. Examine input and database separately in exams.
कागज चलना यांत्रिक भाग के कार्य का संकेत है जबकि खाली पृष्ठ मुद्रण सामग्री की समस्या हो सकती है। परीक्षा में लक्षण विभाजित करें। / Paper movement shows the feed mechanism works while blank pages may indicate a printing material issue. Separate symptoms in exams.
B. अक्षर पहचान सॉफ्टवेयर या भाषा सेटिंग में/In the character recognition software or language setting
Explanation
Simple Explanation
स्पष्ट छवि इनपुट सही होने का संकेत है इसलिए प्रसंस्करण सॉफ्टवेयर जाँचना चाहिए। परीक्षा में इनपुट और प्रसंस्करण अलग करें। / A clear image indicates correct input so the processing software should be examined. Distinguish input from processing in exams.
वेबकैम और माइक्रोफोन अलग इनपुट मार्ग प्रदान करते हैं। परीक्षा में संयुक्त प्रणाली के घटक अलग पहचानें। / The webcam and microphone provide separate input paths. Identify separate components within a combined system in exams.
A. स्पीकर और उसका कनेक्शन/The speakers and their connection
Explanation
Simple Explanation
हेडफोन का स्पष्ट आउटपुट बताता है कि मूल ऑडियो प्रसंस्करण सही हो सकता है। परीक्षा में तुलना से दोष पहचानें। / Clear headphone output suggests that basic audio processing may be correct. Use comparison to locate faults in exams.
A. उसकी बैटरी कमजोर या खराब हो सकती है/Its battery may be weak or faulty
Explanation
Simple Explanation
निर्बाध विद्युत आपूर्ति का बैकअप उसकी बैटरी पर निर्भर करता है। परीक्षा में उपकरण और ऊर्जा भंडारण का संबंध देखें। / UPS backup depends on its battery. Link the device with its energy storage component in exams.
A. मुख्य बिजली, केबल और विद्युत आपूर्ति/Main power source, cable and Power Supply Unit
Explanation
Simple Explanation
शक्ति न मिलने की समस्या में बिजली मार्ग की जाँच पहले करनी चाहिए। परीक्षा में मूल कारण से शुरुआत करें। / When power is absent the electrical path should be checked first. Start with the fundamental cause in exams.
A. कंप्यूटर के समय और कुछ मूल सेटिंग को बनाए रखना/Maintaining system time and some basic settings
Explanation
Simple Explanation
मदरबोर्ड की छोटी बैटरी बिजली बंद होने पर भी घड़ी और मूल सेटिंग सुरक्षित रखती है। परीक्षा में इसे मुख्य बैटरी न मानें। / The small motherboard battery retains the clock and basic settings when power is off. Do not treat it as the main power battery in exams.
A. मदरबोर्ड की घड़ी बैटरी/The motherboard clock battery
Explanation
Simple Explanation
कमजोर घड़ी बैटरी बिजली बंद होने पर समय सेटिंग बनाए नहीं रख सकती। परीक्षा में लक्षण को संबंधित घटक से जोड़ें। / A weak clock battery may fail to retain time settings when power is off. Link symptoms with the related component in exams.
A. वायु प्रवाह कम होना और तापमान बढ़ना/Reduced airflow and increased temperature
Explanation
Simple Explanation
धूल पंखों और वायु मार्ग को रोक सकती है। परीक्षा में रखरखाव और ताप नियंत्रण का संबंध समझें। / Dust can block fans and airflow paths. Understand the relationship between maintenance and temperature control in exams.
A. धूल और भौतिक क्षति का जोखिम/Risk of dust and physical damage
Explanation
Simple Explanation
केस आंतरिक घटकों को बाहरी वस्तुओं और धूल से बचाता है। परीक्षा में सुरक्षा संरचना का उद्देश्य पहचानें। / The case protects internal components from dust and external objects. Identify the purpose of protective structures in exams.
A. प्रणाली या मदरबोर्ड की समर्थित सीमा/A limit supported by the system or motherboard
Explanation
Simple Explanation
हार्डवेयर और ऑपरेटिंग सिस्टम दोनों की अधिकतम स्मृति सीमा हो सकती है। परीक्षा में स्थापित और उपयोग योग्य क्षमता अलग करें। / Both hardware and the operating system may have maximum memory limits. Distinguish installed and usable capacity in exams.
A. प्रदर्शन रैम, भंडारण, सॉफ्टवेयर और कार्य प्रकार पर भी निर्भर करता है/Performance also depends on RAM, storage, software and task type
Explanation
Simple Explanation
समग्र प्रदर्शन अनेक घटकों और कार्यभार से प्रभावित होता है। परीक्षा में केवल एक संख्या से निष्कर्ष न निकालें। / Overall performance is affected by several components and workloads. Do not draw conclusions from a single number in exams.
A. वह धीमा घटक जो पूरी प्रणाली के प्रदर्शन को सीमित करता है/A slower component that limits overall system performance
Explanation
Simple Explanation
सबसे धीमा आवश्यक घटक अन्य तेज घटकों का लाभ सीमित कर सकता है। परीक्षा में समग्र प्रणाली दृष्टि अपनाएँ। / The slowest necessary component may limit the benefit of faster components. Use a whole-system view in exams.
धीमा भंडारण केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई को समय पर डेटा नहीं दे पाता। परीक्षा में प्रतीक्षा करने वाले और रोकने वाले घटक अलग करें। / Slow storage cannot provide data to the processor quickly enough. Distinguish the waiting component from the limiting one in exams.
त्रि-आयामी दृश्य प्रसंस्करण मुख्यतः ग्राफिक्स घटक पर निर्भर करता है। परीक्षा में कार्य के अनुसार उन्नयन चुनें। / Three-dimensional visual processing mainly depends on the graphics component. Choose upgrades according to the task in exams.
A. साउंड कार्ड, ड्राइवर और प्रणाली संसाधन/Sound card, driver and system resources
Explanation
Simple Explanation
ऑडियो समस्या हार्डवेयर, ड्राइवर या संसाधन की कमी से हो सकती है। परीक्षा में बहु-कारक जाँच चुनें। / Audio problems may result from hardware, drivers or insufficient resources. Choose multi-factor diagnosis in exams.
A. बैटरी या चार्जिंग परिपथ/The battery or charging circuit
Explanation
Simple Explanation
सीधे बिजली से चलना मुख्य प्रणाली के कार्य का संकेत है जबकि चार्जिंग मार्ग अलग हो सकता है। परीक्षा में शक्ति मार्ग विभाजित करें। / Running on direct power shows the main system works while the charging path may be separate. Divide power paths in exams.
A. टचपैड की सेटिंग, ड्राइवर या हार्डवेयर समस्या हो सकती है/The touchpad may have a setting, driver or hardware problem
Explanation
Simple Explanation
बाहरी माउस चलना सूचक प्रणाली के सामान्य कार्य का संकेत है। परीक्षा में विशेष उपकरण पर जाँच केंद्रित करें। / A working external mouse shows that general pointer support is functioning. Focus diagnosis on the specific device in exams.
प्रसंस्कृत परिणाम दिखाने या सुनाने का कार्य आउटपुट इकाई करती है। परीक्षा में कार्यचक्र से दोष पहचानें। / The output unit displays or plays processed results. Use the working cycle to locate faults in exams.
A. इनपुट नियंत्रक, पोर्ट और आंतरिक बस/Input controller, port and internal bus
Explanation
Simple Explanation
इनपुट डेटा पोर्ट और आंतरिक संचार मार्ग से प्रसंस्करण इकाई तक जाता है। परीक्षा में पूरा डेटा मार्ग देखें। / Input data travels through the port and internal communication path to the processor. Examine the complete data path in exams.
रैम वाष्पशील स्मृति है और बिजली के बिना सक्रिय डेटा नहीं रखती। परीक्षा में सेव किए गए और सक्रिय डेटा अलग करें। / RAM is volatile and does not retain active data without power. Distinguish saved data from active data in exams.
A. रजिस्टर फिर कैश फिर रैम फिर रीड ओनली मेमोरी/Registers then cache then RAM then Read Only Memory
Explanation
Simple Explanation
सामान्यतः केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई के निकट स्मृति अधिक तेज होती है। परीक्षा में स्मृति पदानुक्रम याद रखें। / Memory closer to the processor is generally faster. Remember the memory hierarchy in exams.
A. मदरबोर्ड, विद्युत और सॉफ्टवेयर संगतता/Motherboard, power and software compatibility
Explanation
Simple Explanation
नया घटक भौतिक, विद्युत और सॉफ्टवेयर रूप से प्रणाली के अनुकूल होना चाहिए। परीक्षा में उन्नयन से पहले संगतता चुनें। / A new component must be physically, electrically and digitally compatible with the system. Choose compatibility before upgrading in exams.
A. इनपुट डेटा देता है, केंद्रीय प्रसंस्करण इकाई उसे संसाधित करती है, स्मृति उसे रखती है और आउटपुट परिणाम देता है/Input provides data, the processor processes it, memory stores it and output presents the result
Explanation
Simple Explanation
कंप्यूटर प्रणाली विभिन्न घटकों के समन्वित कार्य पर आधारित है। परीक्षा में एकल घटक के बजाय पूरा कार्यचक्र देखें। / A computer system depends on coordinated operation among different components. Consider the complete working cycle rather than one component in exams.
