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Subjects
Class 12 Physics Chapter1: Electric Charges and Fields Electric Field and Electric Field Lines Expert Level 18

एक छोटे धन परीक्षण आवेश पर बल मापकर क्षेत्र निकाला गया। यदि परीक्षण आवेश इतना बड़ा हो कि स्रोत आवेशों को खिसका दे, तो सबसे बड़ी त्रुटि क्या होगी?

The field is found by measuring force on a small positive test charge. If the test charge is large enough to move the source charges, what is the main error?

Author: Muft Shiksha Editorial Team Published:
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Correct Answer

A. मापा गया क्षेत्र मूल स्रोत व्यवस्था का क्षेत्र नहीं रहेगाThe measured field will not represent the original source configuration

Step 1

Concept

परीक्षण आवेश का उद्देश्य बिना बाधा डाले क्षेत्र जानना है। / A test charge is meant to probe the field without disturbing it.

Step 2

Why this answer is correct

बड़ा परीक्षण आवेश स्रोत आवेशों की स्थिति बदल सकता है। / A large test charge can alter the positions of source charges.

Step 3

Exam Tip

तब मापा गया क्षेत्र बदली हुई व्यवस्था का होगा, मूल व्यवस्था का नहीं। / Then the measured field belongs to the disturbed configuration, not the original one.

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एक छोटे धन परीक्षण आवेश पर बल मापकर क्षेत्र निकाला गया। यदि परीक्षण आवेश इतना बड़ा हो कि स्रोत आवेशों को खिसका दे, तो सबसे बड़ी त्रुटि क्या होगी? / The field is found by measuring force on a small positive test charge. If the test charge is large enough to move the source charges, what is the main error?

Correct Answer: A. मापा गया क्षेत्र मूल स्रोत व्यवस्था का क्षेत्र नहीं रहेगा / The measured field will not represent the original source configuration. Explanation: चरण 1: परीक्षण आवेश का उद्देश्य बिना बाधा डाले क्षेत्र जानना है। चरण 2: बड़ा परीक्षण आवेश स्रोत आवेशों की स्थिति बदल सकता है। चरण 3: तब मापा गया क्षेत्र बदली हुई व्यवस्था का होगा, मूल व्यवस्था का नहीं। / Step 1: A test charge is meant to probe the field without disturbing it. Step 2: A large test charge can alter the positions of source charges. Step 3: Then the measured field belongs to the disturbed configuration, not the original one.

Why is option A correct in this Physics MCQ?

बड़ा परीक्षण आवेश स्रोत आवेशों की स्थिति बदल सकता है। / A large test charge can alter the positions of source charges.

What should I remember for this Physics concept?

तब मापा गया क्षेत्र बदली हुई व्यवस्था का होगा, मूल व्यवस्था का नहीं। / Then the measured field belongs to the disturbed configuration, not the original one.