Update
Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है • Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है • Muft Shiksha™ एक 100% Free Education Portal है 🇮🇳, जिसका उद्देश्य Class 9–12 के हर विद्यार्थी तक High-Quality Education को पूरी तरह मुफ्त पहुँचाना है। 🇮🇳 हम मानते हैं कि अच्छी शिक्षा किसी student की आर्थिक स्थिति पर निर्भर नहीं होनी चाहिए। 🇮🇳 हर विद्यार्थी को वही Quality Study Material, MCQs, Quizzes, Exam Preparation, Concept-Based Learning और Bilingual Support मिलना चाहिए, जो आमतौर पर महंगी Coaching या Premium Platforms में मिलता है। Muft Shiksha™ 🇮🇳 इसी सोच के साथ बनाया गया है
Subjects

विद्युत क्षेत्र रेखाओं की सघनता किसी जगह अधिक है, पर वहां परीक्षण आवेश बहुत छोटा रखा गया है। यदि परीक्षण आवेश दोगुना कर दिया जाए, तो क्षेत्र रेखाओं का वास्तविक स्रोत चित्र कैसे बदलेगा?

Field line density is high in a region, but a very small test charge is placed there. If the test charge is doubled, how should the source field-line diagram change?

Author: Muft Shiksha Editorial Team Published:
Explanation opens after your attempt
Correct Answer

A. नहीं बदलना चाहिए, यदि परीक्षण आवेश अभी भी क्षेत्र को बाधित नहीं करताIt should not change if the test charge still does not disturb the field

Step 1

Concept

क्षेत्र रेखाएं स्रोत आवेशों के कारण बने क्षेत्र को दिखाती हैं। / Field lines represent the field due to source charges.

Step 2

Why this answer is correct

आदर्श परीक्षण आवेश इतना छोटा माना जाता है कि वह मूल क्षेत्र को नहीं बदलता। / An ideal test charge is small enough not to disturb the original field.

Step 3

Exam Tip

परीक्षण आवेश बदलने से मापा बल बदल सकता है, पर मूल क्षेत्र नहीं। / Changing test charge may change measured force, but not the original field.

Question me issue ya doubt hai?

Answer, explanation, typing mistake ya suggestion directly hamari team ko bhejein. 📱Helpline (Call / WhatsApp): +91 7272824365

Related Physics Questions

FAQs

Physics Answer, Explanation and Revision Hints

विद्युत क्षेत्र रेखाओं की सघनता किसी जगह अधिक है, पर वहां परीक्षण आवेश बहुत छोटा रखा गया है। यदि परीक्षण आवेश दोगुना कर दिया जाए, तो क्षेत्र रेखाओं का वास्तविक स्रोत चित्र कैसे बदलेगा? / Field line density is high in a region, but a very small test charge is placed there. If the test charge is doubled, how should the source field-line diagram change?

Correct Answer: A. नहीं बदलना चाहिए, यदि परीक्षण आवेश अभी भी क्षेत्र को बाधित नहीं करता / It should not change if the test charge still does not disturb the field. Explanation: चरण 1: क्षेत्र रेखाएं स्रोत आवेशों के कारण बने क्षेत्र को दिखाती हैं। चरण 2: आदर्श परीक्षण आवेश इतना छोटा माना जाता है कि वह मूल क्षेत्र को नहीं बदलता। चरण 3: परीक्षण आवेश बदलने से मापा बल बदल सकता है, पर मूल क्षेत्र नहीं। / Step 1: Field lines represent the field due to source charges. Step 2: An ideal test charge is small enough not to disturb the original field. Step 3: Changing test charge may change measured force, but not the original field.

Why is option A correct in this Physics MCQ?

आदर्श परीक्षण आवेश इतना छोटा माना जाता है कि वह मूल क्षेत्र को नहीं बदलता। / An ideal test charge is small enough not to disturb the original field.

What should I remember for this Physics concept?

परीक्षण आवेश बदलने से मापा बल बदल सकता है, पर मूल क्षेत्र नहीं। / Changing test charge may change measured force, but not the original field.